平板探測器和線陣探測器有哪些不同

平板探測器和線陣探測器是無損檢測中常用的兩種x射線探測器。它們在結構和工作原理上有一些明顯的不同點：
1. 結構：平板探測器通常由較大的單個探測器模塊組成，可以覆蓋較大的檢測面積。而線陣探測器是由多個排列在一條線上的小型探測器組成，形成一個線性陣列。
2. 探測方式：平板探測器采用全像式（全面輻射）探測，x射線從不同方向通過被檢測物體，探測器可以接收整個范圍內的輻射。而線陣探測器是采用逐點掃描（點射線）探測，線陣中的探測器逐個掃描被檢測物體，形成點射線的方式進行檢測。
全自動x射線輪轂檢測系統(tǒng)（使用了平板探測器）
3. 分辨率：由于其較大的探測面積，平板探測器通常具有較高的空間分辨率，可以提供更細微的檢測細節(jié)。線陣探測器雖然相對分辨率較低，但由于可以進行逐點掃描，對于有限空間中的局部區(qū)域進行更**的檢測。
4. 適應性：平板探測器適用于大面積的無損檢測，可以有效檢測較大和均勻分布的缺陷。而線陣探測器適用于對細長物體、復雜幾何形狀或限制空間內的檢測，能夠提供更高的靈活性和多樣性。
需要注意的是，選擇平板探測器還是線陣探測器取決于具體的應用需求和被檢測物體的特性。在實際應用中，不同的探測器類型可能會相互補充，以獲得更全面和準確的無損檢測結果。