福州氦質(zhì)譜檢漏儀-博為光電(推薦商家)

年泄漏率大的標(biāo)準(zhǔn)漏孔，要注意經(jīng)常校準(zhǔn)。如果發(fā)現(xiàn)異常，要用外置漏孔校準(zhǔn)。注意使用的環(huán)境。標(biāo)準(zhǔn)漏孔的生產(chǎn)、檢測，都是在20-25℃的室溫下進(jìn)行。尤其有些標(biāo)準(zhǔn)漏孔，對溫度特別敏感。溫度每變化1℃，標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率就有3%以上的誤差。例如，夏天，室溫達(dá)到30℃，這種標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率誤差增加30%。高壓強(qiáng)下檢漏：檢漏口壓強(qiáng)可高達(dá)數(shù)百帕左右，對檢測大系統(tǒng)和有大漏的工件很有益。自動化程度高：自動校準(zhǔn)氦峰，自動調(diào)節(jié)零點，量程自動轉(zhuǎn)換，自動數(shù)據(jù)處理，可外接打印機(jī)。整機(jī)由微機(jī)控制，一個按鈕即可完成一次的全檢漏過程。有些生產(chǎn)的檢漏儀，可采用干式泵，氦質(zhì)譜檢漏儀，達(dá)到無油蒸氣的效果，為無油系統(tǒng)及芯片等半導(dǎo)體器件的檢漏，提供了有利條件。
正壓漏孔的校準(zhǔn)
正壓漏孔校準(zhǔn)裝置一般采用定容法和恒壓法兩種工作原理。在此基礎(chǔ)上又研究了累積比較法、標(biāo)準(zhǔn)氣體法、流量比較法、壓力比較法、質(zhì)譜計法等各種方法，但都以定容法和恒壓法為基礎(chǔ)。1997年美國材料和測試學(xué)會“校準(zhǔn)氣體參考漏孔的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范”。該規(guī)范毛細(xì)管—水柱位移法為恒壓法，氣體累積法為定容法。歐洲標(biāo)準(zhǔn)化1995年(centc138wfg/6n3rev3)也采用類似毛細(xì)管—水柱位移法。瑞士balzers公司在1995年建立了基于恒壓法的正壓漏孔的校準(zhǔn)系統(tǒng)。我國是采用恒壓法測量，測量范圍10-7—10-5pam3/s。我們采用質(zhì)譜比較法校準(zhǔn)，準(zhǔn)確數(shù)據(jù)由510所科委計量站提供。
真空漏孔用于正壓時，該漏孔的標(biāo)定值要改變。正壓檢測漏率范圍10-3—10-8pam3/s是過渡流。過渡流的計算較復(fù)雜，如用真空漏孔替代正壓條件進(jìn)行換算，工程應(yīng)用上較為不便，因此必須正壓檢漏時用正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔做比較準(zhǔn)。正壓漏孔在使用時，其供氣壓力氦氣濃度應(yīng)一致。正壓漏孔的研究國內(nèi)外起步均比較晚，但它已在大型燃料貯箱、運(yùn)載火箭氫氧系統(tǒng)成功應(yīng)用。但是正壓漏孔的制作、校準(zhǔn)、應(yīng)用與其氣流特性均需在實踐中進(jìn)一步完善發(fā)展。
氦質(zhì)譜檢漏儀的工作原理
氦質(zhì)譜檢漏儀是根據(jù)質(zhì)譜分析原理，以氦為示蹤氣體，對真空設(shè)備和密封器件的漏隙進(jìn)行定位或定量、定性測量的完整系統(tǒng)。
我們知道氣體在電子的轟擊下會產(chǎn)生帶電粒子，帶電粒子在電場的作用下獲得能量做加速動力，而在磁場的作用下將做圓周運(yùn)動，而具有不同質(zhì)荷比的離子其運(yùn)動半徑不同。這就使一束帶電粒子在磁場的作用下按荷質(zhì)比分離，這門研究使不同質(zhì)量的粒子在電磁場中運(yùn)動并依質(zhì)荷比進(jìn)行分離的學(xué)科稱為質(zhì)譜學(xué)。根據(jù)質(zhì)譜學(xué)原理制成的儀器叫質(zhì)譜儀。氦質(zhì)譜檢漏儀是質(zhì)譜儀器中的一種，將質(zhì)譜儀用于檢漏技術(shù)是質(zhì)譜儀在真空密封檢測技術(shù)中的重要應(yīng)用。
檢漏的基本任務(wù)靠采取一些標(biāo)準(zhǔn)檢漏技術(shù)來完成，而采用哪種技術(shù)要根據(jù)被檢件的結(jié)構(gòu)、檢漏的經(jīng)濟(jì)效益及檢漏系統(tǒng)的性質(zhì)來決定。
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